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行业新闻

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布鲁克推出新尺寸XR系列扫描探针显微镜

2018,12,03


布鲁克推出新尺寸XR系列扫描探针显微镜

布鲁克11月28日推出Dimension XR?系列扫描探针显微镜(SPMs)。这些新系统包含主要的AFM创新,包括布鲁克专利独有的DataCube纳米电子模式,用于能源研究的AFM-SECM,以及新的AFM-nDMA模式。


美国加利福尼亚州圣巴巴拉,布鲁克于当地时间2018年11月28日宣布推出Dimension XR™系列扫描探针显微镜(SPMs)。这些新系统包含主要的AFM创新,包括布鲁克专利独有的DataCube纳米电子模式,用于能源研究的AFM-SECM,以及新的AFM-nDMA模式,该模式首次将聚合物纳米力学与体动态力学机械分析(DMA)相关联。基于科学出版物中两种世界上最常用的AFM平台,Icon®和FastScan®,Dimension XR SPMs有三种配置,针对纳米力学,纳米电子和纳米电化学应用进行了优化。这些系统显着扩展了研究人员在空气,流体,电气和化学反应环境中量化纳米级材料特性的能力。
“新的Dimension XR系统是多年创新的结晶,提供定量和易用的纳米机械,纳米电子和纳米电化学表征,”布鲁克AFM业务执行副总裁兼总经理David V. Rossi阐述道。“我们的目标是让研究界广泛使用这些首要和唯一的功能,使其突破性AFM发现可以实现新的纳米级信息。

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